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BSX系列誤碼率測試儀

泰克BSX 系列誤碼率測試儀引入了能夠支持第四代及以上新興標準的接收機測試平臺。通過增加強大的數據處理和內置發射機均衡技術,BERTScope 支持基于協議的握手功能,并與被測器件 (DUT) 同步,包括交互式鏈路訓練,支持最高 32 Gb s 的數據速率
快速發展的市場要求使用更快的 Rx 測試流程和工作流程。 BSX 系列 BERTScope® 是實現一致性的最快途徑。
價格:¥-
BSX系列誤碼率測試儀

特點與技術參數

主要特點

為接收機壓力測試、調試和一致性測試提供單一解決方案
測試第三代和第四代標準,包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各種自主開發的標準
超過 16 Gb/s 的 DUT 握手功能,滿足環回發起和自適應鏈路訓練的接收機測試要求,支持 PCIe 等主要標準
協議識別碼型發生和誤碼檢測,支持靈活的激勵響應編程能力,調試握手問題。
前向糾錯(FEC)仿真選項,可以測量糾錯前和糾錯后BER,支持常用的Reed-Solomon FEC代碼。
為各種主要標準提供了校準和測試自動化軟件
高達 32 Gb/s 的碼型發生和誤碼分析功能
選配內置 4 階發射機均衡功能,支持交互式鏈路訓練
面向協議和面向位的多鏈碼型定序技術,增強型碼型/序列編輯器
激勵響應反饋,用戶自定義檢測器碼型匹配
已獲專利的誤碼定位分析技術(Error Location Analysis™ ),超越BER測量,分析關聯度和確定性錯誤碼型,深入了解誤碼根源
選配前向糾錯分析技術,根據測得誤碼位置碼型仿真FEC后誤碼率
集成眼圖和 BER 關聯功能,包括模板測試、抖動峰值、BER輪廓
選配抖動分離及定位 (Jitter Map) 系統,提供豐富的抖動解析 – 支持長碼型(如 PRBS-31)

主要應用
設計驗證,包括信號完整性、抖動和時序分析
測試高速串行系統、復雜設計的性能
設計/驗證高速 I/O 組件和系統,包括 DUT 握手
信號完整性分析 – 模板測試、峰值抖動、BER輪廓、抖動分離及定位(Jitter Map)和前向糾錯仿真
 

技術參數

數據輸出
型號 BSX125 BSX240 BSX320
數據速率范圍 0.6 ~ 12.5 Gb/s 1 ~ 24 Gb/s 1 ~ 32 Gb/s
格式 NRZ
極性 正;蚍聪
可變交叉點電平范圍 30 ~ 70%
碼型 硬件碼型 工業標準的 PRBS 碼型。2n-1,n=7,11,15,20,23,31
RAM 碼型 128 位 ~512 Mbits,支持 128 個碼型排序器狀態
碼型數據庫 種類齊全,包括基于 K28.5 或 CJTPAT 碼型的 SONET/SDH, 光纖通道碼型;2n 碼型,n=3,4,5,6,7,9;2n 標記密度碼型,n=7,9,23;等等
碼型排序器 模式 間接接入碼型內存 位模式 – 沒有應用協議處理
協議識別模式 – 對支持的協議應用協議處理
排序器狀態 最多 128 種碼型排序器狀態
環路等級 兩級(每個環路最多 1M 迭代)
碼型段長度 最低 128 位,單個比特粒度直到最大內存容量。
協議模式 以協議塊單位運行:
對 PCIe Gen3/Gen4,單個128b/130b 時鐘
對 USB 3.1 SSP,單個 128b/132b 時鐘
對 8b/10b,1 ~16 個 8b/10b 符號
協議處理 協議識別模式處理包括:
將符號封裝到協議塊中
符號編碼 (8b/10b)
數據加擾(所有協議)
DC 均衡(PCIe Gen3/4、USB 3.1 SSP)
誤碼插入 長度 1, 2,4,8,16,32,64位長度突發序列
頻率 單個或者重復
數據輸出幅度和偏置
配置 差分輸出,可以為端子、幅度、偏置單獨設置輸出對的每一側
接口 DC耦合,50 Ω反向端接,3.5 mm連接器?梢赃x擇校準至75 Ω,其他阻抗通過小鍵盤輸入。用戶可更換Planar Crown®適配器,可以變成其他連接器類型。
預設邏輯家族 LVPECL, LVDS, CML, ECL, SCFL
端接 可調:-2V到3V 預設:+1.5, +1.3, +1, 0, –2 V, AC 耦合
 
 

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